a)         基體金屬特性

        對(duì)于磁性方法涂層測(cè)厚儀，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對(duì)渦流方法涂層測(cè)厚儀，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b)        基體金屬厚度

        檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

c)         邊緣效應(yīng)

        不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

d)        曲率

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

e)         讀數(shù)次數(shù)

        通常由于涂層測(cè)厚儀的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

f)         表面清潔度

        測(cè)量前，應(yīng)**表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。